Näytetään tulokset 1 - 10 / 548
tulosta / sivu
Mitä julkaisutietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
 Julkaisujen tiedon ikoni

Characterization of edgeless CdTe detectors for use in hard X-Ray imaging applications

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/TNS.2012.2197025
Veale, Matthew C.; Bell, Steven J.; Jones, Lawrence L.; Seller, Paul; Wilson, Matthew D.; Cernik, Ro...
IEEE Transactions on Nuclear Science2012 Julkaisujen tiedon ikoni

Recent advances in processing and characterization of edgeless detectors

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1088/1748-0221/7/02/C02001
Wu, Xiaopeng; Kalliopuska, Juha; Eränen, Simo; Virolainen, Tuula
Journal of Instrumentation2012 Julkaisujen tiedon ikoni

Processing and characterization of edgeless radiation detectors for large area detection

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2013.06.097
Kalliopuska, Juha; Wu, Xiaopeng; Jakubek, J.; Eränen, Simo; Virolainen, Tuula
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detecto...2013 Julkaisujen tiedon ikoni

Alternative fabrication process for edgeless detectors on 6 in. wafers

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2010.06.119
Kalliopuska, Juha; Eränen, Simo; Virolainen, Tuula
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detecto...2011 Julkaisujen tiedon ikoni

Characterization of edgeless pixel detectors coupled to Medipix2 readout chip

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2011.01.006
Kalliopuska, Juha; Tlustos, Lukas; Eränen, Simo; Virolainen, Tuula
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detecto...2011 Julkaisujen tiedon ikoni

3D processing on 6 in. high resistive SOI wafers: Fabrication of edgeless strip and pixel detectors

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2009.03.243
Eränen, Simo; Kalliopuska, Juha; Orava, Risto; van Remortel, Nick; Virolainen, Tuula
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detecto...2009 Julkaisujen tiedon ikoni

Characterisation of edgeless technologies for pixellated and strip silicon detectors with a micro-focused X-ray beam

Vertaisarvioitu
DOI
10.1088/1748-0221/8/01/P01018
Bates, R.; Blue, Andrew; Christophersen, M.; Eklund, L.; Ely, S.; Fadeyev, V.; Gimenez, E.; Kachkano...
Journal of Instrumentation2013 Julkaisujen tiedon ikoni

Performance of almost edgeless silicon detectors in CTS and 3D-planar technologies

Vertaisarvioitu
DOI
10.1088/1748-0221/8/06/P06009
Alagoz, E.; Anelli, G.; Antchev, G.; Avati, V.; Bassetti, V.; Berardi, V.; Boccone, V.; Bozzo, M.; B...
Journal of instrumentation2013 Julkaisujen tiedon ikoni

Superconducting Microstrip Detectors

Costa, L.; Valtonen, M.
-1995 Julkaisujen tiedon ikoni

Edgeless planar semiconductor sensors for a Medipix3-based radiography detector

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1088/1748-0221/6/11/C11019
Bosma, M.J.; Heijne, E.; Kalliopuska, Juha; Visser, J.; Koffeman, N.
Journal of Instrumentation2011

Characterization of edgeless CdTe detectors for use in hard X-Ray imaging applications

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/TNS.2012.2197025
2012

Recent advances in processing and characterization of edgeless detectors

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1088/1748-0221/7/02/C02001
2012

Processing and characterization of edgeless radiation detectors for large area detection

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2013.06.097
2013

Alternative fabrication process for edgeless detectors on 6 in. wafers

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2010.06.119
2011

Characterization of edgeless pixel detectors coupled to Medipix2 readout chip

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2011.01.006
2011

3D processing on 6 in. high resistive SOI wafers: Fabrication of edgeless strip and pixel detectors

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.nima.2009.03.243
2009

Characterisation of edgeless technologies for pixellated and strip silicon detectors with a micro-focused X-ray beam

Vertaisarvioitu
DOI
10.1088/1748-0221/8/01/P01018
2013

Performance of almost edgeless silicon detectors in CTS and 3D-planar technologies

Vertaisarvioitu
DOI
10.1088/1748-0221/8/06/P06009
2013

Superconducting Microstrip Detectors

1995

Edgeless planar semiconductor sensors for a Medipix3-based radiography detector

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1088/1748-0221/6/11/C11019
2011